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OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila

OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila
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供應數量:
2434
發(fā)布日期:
2024/9/12
有效日期:
2025/3/12
原 產 地:
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只用于動物實驗研究等

Low density bottom gate bottom contact prefabricated FET substrate Pre-fabricated low-density FET substrate.

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Schematics

Constant channel length design

OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila

Low density FET substrate mask dimensions (constant channel length)Constant channel width low-density FET design.

 

Variable channel length design

Low density OFET substrate mask dimensions (variable channel length)Variable channel width low-density FET design.


 

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